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　　紫外光可靠性测试（UV测试）是信息显示领域对应产品必须要通过的强制性测试，尽管其能量仅占标准阳光（AM1.JBO在线入口5）以及显示器背光的5%，但是它却是造成产品耐用性能下降的主要因素，所造成的影响主要是表现为材料导电性能下降或失效、变色、亮度下降、龟裂、脱膜、附着力下降等问题。基于UV老化测试的极为重要性，在微信订阅号易晖光电2017-04-13发布“关于MDSNTM与纳米银线紫外光(UV)稳定性差异的测试结果与探讨”的基础上，我JBO官网们委托第三方权威检测机构针对MDSNTM产品与包括国外知名的纳米银线透明导电膜(SNW)产品再次进行了JBO官网入口UV测试。

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　　一、测试条件（参照ASTM G 154标准）

　　结合客户的反馈，为了更贴近于实际应用场景，此次我们对UV测试的条件进行了适当调整。

　　1、UV灯：UVA-340，行业公认的模拟阳光紫外线的最佳选择；

　　2、辐照值：0.89W/m2/nm；

　　3、峰值所处的波长：340nm；

　　4、测试条件：不间断、连续UV照射，无水冷凝过程，中间217H取样测试，最后504H取样测试；

　　5、UVA-340的光谱图，半宽在330-370nm，对应波段的辐射能大概为37.5W/m2，相对于标准AM1.5光谱(1000W/m2)的3%左右。

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　　二、测试过程：

　　1、测试产品：MDSNTM(易晖核心产品)、L-SNW(国内企业)、LG-SNW、KOLON-SNW、C3-SNW。

　　注：以下L-SNW(国内企业)、LG-SNW、KOLON-SNW、C3-SNW四家的所有测试结果仅代表此次样品的结果，不代表其公司其余产品的结果。

　　2、测试机构：第三方机构“深圳市百思杰检测技术有限公司（简称BTT）”；

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　　三、测试结果：

　　1、测试前(UV OH)的性能对比结果：

　　（注：点击图片可放大查看）

　　从以上数据及图谱来看：

　　1）MDSNTM在UV区间不存在吸收峰，L-SNW、G-SNW、K-SNW的均在365nm左右存在吸收峰，C-SNW在349nm存在典型的吸收峰，在380nm也存在一定的吸收峰；

　　2）MDSNTM在300-400nm区间的透过率要明显低于L-SNW、G-SNW、K-SNW和C-SNW，具备优异的UV屏蔽功能。

　　2、UV老化测试(UV 217H)的性能对比结果：

　　（注：点击图片可放大查看）

　　从以上数据结果来看，经过217H UV后：

　　1）MDSNTM的各项指标保持不变；

　　2）L-SNW、KOLON-SNW的导电功能基本丧失，LG-SNW的导电功能正常。L-SNW、LG-SNW、KOLON-SNW的附着力大幅度下降，紫外吸收峰消失。C3-SNW的面电阻在局部区域有一定的增加，附着力正常，349nm对应的紫外吸收峰消失，在365nm处出现新的紫外吸收峰。

　　3、UV老化测试(UV 504H)的性能对比结果：

　　（注：点击图片可放大查看）

　　从以上数据、图谱和附着力测试(百格+3M610胶带)结果来看，经过连续504H UV后：

　　1）MDSNTM的各项指标保持不变；

　　2）L-SNW、G-SNW、K-SNW和C-SNW的导电功能、附着力、透过率指标均全部失效。

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　　四、分析及总结：

　　经过连续504H UV后，MDSNTM的各项指标保持不变，这与MDSNTM产品的结构设计有直接的关系。MDSNTM的内部结构设计及原理是采用表面等离子体激元与入射光折射（Surface Plasmon Refraction）的原理（参考“Foundations of Plasmonics”, Y. Wang, E. W. Plummer, and K. Kempa,Advances in Physics 60, 799, 2011）。

　　MDSNTM的整体结构仅包含均匀连续的银网膜层和无机光学介质层，所激发的表面等离子激元为平面波而非驻波，不产生谐振效应（Resonance Effect），因此不会产生紫外吸收。

　　同时从MDSNTM的光学图谱中再次证明，不管是UV照射之前还是之后，在300-400nm的紫外波段均不存在吸收峰，相比SNW其紫外透射率最低，证明MDSNTM具备优异的UV屏蔽性能。

　　经过连续504H UV后，L-SNW、G-SNW、K-SNW和C-SNW的导电功能、附着力、透过率指标均全部失效。具体失效机理，相关下游产业公司都有经历过并有相应的分析，其主要原因是SNW导电膜中存在大量密集的银纳米线团簇，而每一根银线实际上都是分散的独立纳米结构，其直径往往只有几十纳米，使得其在紫外光照射下必然产生等离子驻波谐振效应（Plasmon Resonance）从而发生对紫外光的高度吸收，并转化为热能，导致出现Ag→Ag＋变质反应以及SNW导电膜内高分子介质材料的化学键断裂，最终导致产品失效。从以上紫外图谱可以看出，即在UV照射前SNW的紫外透过率中明显存在吸收峰（等离子谐振效应），而UV照射后该效应消失，证明SNW的物理形态已经发生变化。

　　总之，本次UV可靠性测试的结果再次充分表明，易晖MDSNTM相比包括国外知名品牌在内的各类SNW产品具有突出的紫外光可靠性和屏蔽效果，可以放心的服务于大尺寸电容式触控（Large P-CAP）、智能调光膜（Smart Windows）、透明加热膜（Transparent Heating）、电磁屏蔽膜（EMI）等领域，期待逐步获得光电行业内的广泛认知。